A fi de facilitar la lectura i comprensió dels seus Informes Tecnològics de Patents (ITPs), Cerques Retrospectives i Informes de Vigilància Tecnològica, l’OEPM ha modernitzat el seu format i disseny.
El nou format d’aquests documents estructura el contingut en seccions més comprensibles i, en la seva versió electrònica, permet la navegació mitjançant hipervínculos entre els seus diferents apartats i l’accés a les definicions de les classificacions de patents, a més dels diversos documents citats. Com a millora addicional els documents més propers de l’estat de la tècnica seleccionats per l’examinador de patents que realitza l’informe, es mostren ara indicant el seu grau de rellevància de forma resumida en una taula.